Коллектив исследователей из ФИАН и МФТИ разрабатывает подход, который в перспективе позволит без прямого контакта с полупроводником вылечивать в нем некоторые типы дефектов Подробнее https://scientificrussia.ru/articles/gip...
81
0
0
Комментарии могут оставлять только зарегистрированные пользователи